Sheet Inspection
Sheet Inspection 金屬異物檢查機
IC半導體封裝
本設備可檢查MCP (Muti-Chip Package)多數晶片中是否有金屬混入，以避免半導體迴路的短路．
本設備可檢查MCP (Muti-Chip Package)多數晶片中是否有金屬混入，以避免半導體迴路的短路．
